두산테스나 테스트사업

사업 내용

반도체 제조공정 중 웨이퍼 단계 테스트(Wafer Test)와 패키징 후 최종 출하 전 테스트(PKG Test)를 수행한다. 테스트 대상 제품군은 SoC(System on Chip), CIS(CMOS Image Sensor), MCU(Micro Controller Unit), Smartcard IC로 구성되며, 웨이퍼 테스트 매출 비중이 대부분을 차지한다. 테스트 단가는 [장비별 시간당 단가 × Wafer 장당 또는 PKG(Chip)당 Test Time]으로 산정되며 고객사·Device별 편차가 크다.

매출 및 수익성 추이

(단위: 천원)

품목2025년2024년2023년
Wafer Test280,964,147345,472,231323,623,843
PKG Test18,023,14318,261,51415,028,411
소계298,987,290363,733,745338,652,254
구분2025년2024년2023년
WaferTest 가동률45.5%61.9%69.7%
PKGTest 가동률58.9%53.8%34.4%

주요 제품·서비스

  • Wafer Test — SoC, CIS, Smart Card IC, MCU 대상
  • PKG Test — MCU, CIS, SoC 대상

경쟁 현황

시스템반도체 후공정 테스트는 다품종 소량생산 특성상 메모리 대비 경기변동에 상대적으로 둔감하나, 2025년 전방산업 수요 둔화로 가동률이 큰 폭 하락했다(WaferTest 61.9%→45.5%).

KPI

  • 2025년 WaferTest 생산능력 618,048,707천원 대비 생산실적 280,964,147천원(가동률 45.5%)
  • 고객 매출액의 10% 이상을 차지하는 단일 고객 존재(대형 반도체회사)

Citations